|
|
| 申请号 | 201010580182.6 |
申请日 | 2010.12.09 |
| 名称 | 一种太阳能硅片清洗后表面残留物的检测方法 |
| 公开(公告)号 | CN102062733A |
公开(公告)日 | 2011.05.18 |
| 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
分案原申请号 | |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 颁证日 | |
优先权 | |
| 申请(专利权)人 | 浙江昱辉阳光能源有限公司 |
| 地址 | 浙江省嘉兴市嘉善县姚庄工业园宝群路8号 |
| 发明(设计)人 | 杨长剑;袁刚;陈斯奇;王伟;贾平;司旭亮 |
国际申请 | |
| 国际公布 | |
进入国家日期 | |
| 专利代理机构 | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 |
代理人 | 徐关寿 |
| 专利描述 |
本发明涉及属于硅片清洗技术领域，具体涉及一种太阳能硅片清洗后表面残留物的检测方法。所述检测方法包括以下步骤：将水溶性荧光粉添加至硅片清洗液中，硅片经超声波清洗和漂洗后，对待检硅片或水样滤纸进行紫外光谱分析，比对判断后记录分析结果。本发明在硅片浸泡式湿式化学清洗法中，创造性地引入荧光检测，能够以肉眼简便快捷而又直观的看到硅片清洗残留情况，来检测硅片的清洗效果，避免因硅片表面洁净度不良而影响后续制绒效果及影响光电转换效率等问题。该方法对硅片没有二次污染，而且又能够快速准确检测他物残留。 |
| 想进一步了解专利详情，请咨询专利者 |
|
|
|
|
